CS19010系列局部放电测试仪是一款适用于高压隔离集成电路（如光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片）、半导体高压开关（如IGBT、MOSFET），及高压绝缘组件（如隔离基板）、低容值高压电容器等器件局部放电和耐压测试的综合测量设备，可实现0.1kV~10kV范围内耐压测试和局部放电测试。
CS19010系列局部放电测试仪采用试品串联耦合测量模式，测试方法符合通用局放测量标准GB/T 7354-2018 （IEC60270：2000），同时也符合特定器件的局放测量标准，如光隔离器安全标准（IEC60747-5-5）、数字隔离器安全标准（IEC60747-17）、低电压设备安全标准（IEC60664-1）、半导体开关组件标准（IEC 60747-15）等；具有自定义高压输出波形、多种测量条件合格判断功能，用户可根据需求柔性组合，实现0.01uA~1mA泄漏电流测量和1pC~200pC局部放电测量，可满足大多数集成隔离器件和高绝缘材料的产品品质测试需求。
CS19010系列局部放电测试仪的主要应用领域：（1）工业生产，依据相关标准在高压器件（组件）生产过程中进行局部放电常规测试或现场诊断测试；（2）科学研究，对高压绝缘材料进行局部放电特性研究或绝缘劣化过程研究。
