CS19010系列局部放电测试仪是一款适用于高压隔离集成电路（如光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片）、半导体高压开关（如IGBT、MOSFET），及高压绝缘组件（如隔离基板）、低容值高压电容器等器件局部放电和耐压测试的综合测量设备，可实现0.1kV~10kV范围内耐压测试和局部放电测试