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    CS19010局部放电测试仪

    CS19010系列局部放电测试仪是一款适用于高压隔离集成电路(如光耦、磁耦、隔离放大器、隔离式数字通信芯片)、半导体高压开关(如IGBT、MOSFET),及高压绝缘组件(如隔离基板)、低容值高压电容器等器件局部放电和耐压测试的综合测量设备,可实现0.1kV~10kV范围内耐压测试和局部放电测试

    更新时间:2024-06-12访问量:279
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