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    TH513 半导体C-V特性分析仪

    ■ 一体化设计:LCR+VGS低压源+VDS高压源+通道切换+上位机软件■ 单管器件(点测)、模组器件(列表扫描)、曲线扫描(选件)三种测试方式■ 四寄生参数(Ciss、Coss、Crss、Rg或Cies、Coes、Cres、Rg)同屏一键测量及显示■ 标配2通道,可扩展至6通道,可测单管、多芯或模组器件(TH513仅1通道)■ CV曲线扫描、Ciss-Rg曲线扫描■ 电容快速充电技术,实现快速测试■ 接触检查Cont■ 通断测试OP_SH■ 自动延时设置■ 栅极电压VGS:0 - ±40V■ 漏极电压VDS:0 - ±3000V■ 10档分选

    更新时间:2023-11-30访问量:243
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